@@ -94,11 +94,37 @@ Laden Sie für diese Aufgabe die Dateien [Zinkblende.cif](cif files/Zinkblende.c
- a) Importieren Sie in Vesta (https://jp-minerals.org/vesta/en/download.html) die Zinkblende Struktur, erweitern sie die Einheitszellen in x,y und z auf 3 Einheiten und simulieren Sie das Beugungsmuster (PXRD) mit der Wellenlänge von Cu Kalpha lambda=1.54059 Ang. Zeichnen Sie zusätzlich zu den ersten 3 Peaks (2 theta = 28.53 ° , 33.06 ° und 47.45 °) im PXRD jeweils 1 zugehörigen Reflex ein indem sie in Vesta zwei Gitterebenen bei n*d und (n+1)*d. Wählen Sie für diese Ebenen zur besseren Darstellung 5 < n < 20.
<figcaption><b>Figure 1</b>: Copper nitrides with ternary metal measured in normal XRD and investigated with EXAFS.
</figcaption>
</figure></div><br><br>
Exportieren sie das Beugungsmuster für d)
- b) Warum ist kein Reflex der (1 0 0) Ebene in der simulierten PXRD zu sehen, obwohl die (2 0 0) Ebene einen Reflex erzeugt? Berechnen Sie hierfür den Strukturfaktor 𝑆<sub>basis<sub>
- c) Simulieren Sie nun das Beugungsmuster (PXRD) von Diamant. Obwohl beide Einheitszellen Atomen an nahezu exakt denselben Koordinaten aufweisen werden Sie Unterschiede im PXRD feststellen. Nennen sie die Ebenen (h k l) an denen Sie diese Unterschiede ausmachen und nennen Grund das diese Reflexe in der einen Struktur auftreten in der anderen jedoch ausbleiben.
<figcaption><b>Figure 1</b>: Copper nitrides with ternary metal measured in normal XRD and investigated with EXAFS.
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- d) Bei einem Beugungsexperiment am Synchrotron wurde eine Probe von ZnS mit einer Wellenläge der Röntgenstrahlen von $`\rm{\lambda = 0.12203 \AA}`$ (entspricht Photonenergie von 100 keV) untersucht. Schauen sie sich das Beugungsmuster des Experiments am Synchrotron an und überlegen Sie sich, was Sie tun müssen um das Experiment mit der Simulation für eine Kupferanode aus a) zu vergleichen. Plotten sie Referenz und Experiment in einer Graphik.
<divalign="center"><figure>
<imgheight="500"src="graphics/Zinkblende vs Experiment.png">
<figcaption><b>Figure 1</b>: Copper nitrides with ternary metal measured in normal XRD and investigated with EXAFS.